机译:使用位置平均会聚光束电子衍射来量化纳米级的JAHN-TAKEER畸变在纳米尺度下进行仔细检查精度
机译:使用单个参数度量从定位平均会聚光束电子衍射模式的厚度测定精度和精度
机译:深度卷积神经网络分析位置平均会聚光束电子衍射图案
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机译:使用位置平均会聚束电子衍射定量LaNiO_3超薄膜中的八面体旋转
机译:使用X射线衍射和会聚光束电子衍射测量应变硅的晶格应变和弛豫效应
机译:三束会聚电子衍射仪用于测量结晶相
机译:深度卷积神经网络分析位置平均值 会聚束电子衍射图