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【2h】

Determination of nano-roughness for micro-objects by measuring the van der Waals force

机译：通过测量范德华力来确定微物体的纳米粗糙度

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作者
B. Bratina; J. Safaric; S. Uran; R. Safaric;
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年度 2019
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1. Measuring van der Waals and electrostatic forces for an atomic force microscope probe contacting with metal surfaces [J] . Dedkov GV, Dedkova EG, Tegaev RI, Technical physics letters: Letters to the Russian journal of applied physics . 2008,第1期

机译：测量原子力显微镜探针与金属表面接触时的范德华力和静电力
2. Predicting and measuring repulsive van der Waals forces for a Teflon AF~(TM)–solvent–α-alumina system [J] . Christian D. Bohling, Wolfgang M. Sigmund Colloids and Surfaces, A. Physicochemical and Engineering Aspects . 2014,第Null期

机译：预测和测量特氟龙AF〜（TM）-溶剂-α-氧化铝系统的范德华排斥力
3. AFM measures van der Waals forces between molecules [J] . Julian P. Heath Microscopy and Analysis. The Americas . 2013,第122期

机译：AFM测量分子之间的范德华力
4. DYNAMIC CHARACTERISTICS OF FLYING HEAD SLIDER CONSIDERING VAN DER WAALS FORCES (ANALYSES BASED ON THE CORRECTED VAN DER WAALS FORCE EQUATION FOR MULTILAYERS) [C] . Hiroshige MATSUOKA, Satoru OHKUBO, Shigehisa FUKUI STLE/ASME Joint International Tribology Conference and Exhibition; Oct 27-29, 2003; Ponte Vedra Beach, Florida . 2003

机译：考虑范德华力的飞行头部滑架的动力学特性（基于多层修正的范德华力方程的分析）
5. Measurement of van der Waals forces by atomic force microscopy between surfaces of silicon nitride, gold, and Langmuir-Blodgett films of polymerized 10,12-nonacosadiynoic acid. [D] . Myers, Ramona Lynn. 1999

机译：通过原子力显微镜在聚合的10,12-壬二芥子酸的氮化硅，金和Langmuir-Blodgett膜的表面之间测量范德华力。
6. Measuring electrostatic van der Waals and hydration forces in electrolyte solutions with an atomic force microscope [O] . Hans-Jürgen Butt 1991

机译：用原子力显微镜测量电解质溶液中的静电力范德华力和水合作用力
7. Measuring electrostatic, van der Waals, and hydration forces in electrolyte solutions with an atomic force microscope [O] . Butt, Hans-Jürgen 1991

机译：用原子力显微镜测量电解质溶液中的静电力，范德华力和水合作用力

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