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Quantification of High Resolution Pulsed RF GDOES Depth Profiles for Mo/B4C/Si Nano-Multilayers

机译：用于Mo / B4C / Si纳米多层的高分辨率脉冲RF GDOE的高分辨率脉冲RF GDOES

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Hao Yang; Songyou Lian; Patrick Chapon; Yibing Song; Jiangyong Wang; Congkang Xu;
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年度 2021
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专利

1. Cerebral perfusion in corresponding blood supply areas of transient ischemic attack patients with intracranial stenosis Seven cases of diamox-perfusion verified by magnetic resonance-perfusion-weighted imaging [J] . Lian Huang, Xuewen Song, Anding Xu, 中国神经再生研究（英文版） . 2010,第001期
2. Quantification of High Resolution Pulsed RF GDOES Depth Profiles for Mo/B4C/Si Nano-Multilayers [J] . Hao Yang, Songyou Lian, Patrick Chapon, Coatings . 2021,第6期

机译：用于MO / B4C / Si纳米多层的高分辨率脉冲RF GDOE深度曲线的定量
3. Influence of interfacial depth on depth resolution during GDOES depth profiling analysis of thin alumina films [J] . Shimizu K., Skeldon P., Thompson GE., Surface and Interface Analysis: SIA: An International Journal Devoted to the Development and Application of Techniques for the Analysis of Surfaces, Interfaces and Thin Films . 2001,第9期

机译：氧化铝深度对GDOES深度轮廓分析过程中界面深度对深度分辨率的影响
4. Influence of surface roughness on the depth resolution of GDOES depth profiling analysis [J] . Shimizu K., Habazaki H., Kobayashi K., Surface and Interface Analysis: SIA: An International Journal Devoted to the Development and Application of Techniques for the Analysis of Surfaces, Interfaces and Thin Films . 1999,第3期

机译：表面粗糙度对GDOES深度轮廓分析的深度分辨率的影响
5. Ultra fast depth profile measurements of materials: Pulsed RF GD OES tool for corrosion studies [C] . Patrick Chapon, Agnès Tempez, Célia Olivero European corrosion congress . 2013

机译：材料的超快速深度剖面测量：用于腐蚀研究的脉冲RF GD OES工具
6. Breast cancer tomotherapy: The impact of intrafraction motion and shallow depth dose profiles on the choice of PTV depth [D] . Strydhorst, Jared H. 2008

机译：乳腺癌断层治疗：分形运动和浅深度剂量分布对PTV深度选择的影响
7. Quantification of Hydrogen Concentrations in Surface and Interface Layers and Bulk Materials through Depth Profiling with Nuclear Reaction Analysis [O] . Markus Wilde, Satoshi Ohno, Shohei Ogura, 2016

机译：通过深度分析和核反应分析定量分析表面和界面层以及散装材料中的氢浓度
8. Direct chemical in-depth profile analysis and thickness quantification of nanometer multilayers using pulsed-rf-GD-TOFMS [O] . Martín José Ignacio, Quirós Carlos 2010

机译：使用脉冲RF-GD-TOFMS对纳米多层膜进行直接化学深度分布分析和厚度定量

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