机译:错误:“通过气溶胶沉积制备微致动器的Pb(Zr,Ti)O3厚膜的压电性能和极化效应”苹果。物理。吧。 77,1710(2000)
机译:勘误表:“使用二次谐波压电响应力显微镜直接观察外延生长的Pb(Zr,Ti)O3薄膜的疲劳” [Appl。物理来吧99,052904(2010)]
机译:评述“通量生长的[011]极化Pb(Mg1 / 3Nb2 / 3)O3-(28-32)%PbTiO3单晶的弹性,介电和压电性能的完整集合” [附录。物理来吧92,142906(2008)]
机译:勘误表:“在Pt / Ti / SiO_2 / Si上具有两种不同取向的溶胶-凝胶生长的Bi_(3.15)Nd_(0.85)Ti_3O_(12)薄膜的各向异性铁和压电特性”物理来吧89,062905(2006)]
机译:通过脉冲放电在室温下通过脉冲放电极高的PBTIO3 / Pb(Zr,Ti)O3厚膜的高温性能
机译:勘误表:完整的单畴0.26Pb(In1 ∕ 2Nb1 ∕ 2)O3-0.46Pb(Mg1 ∕ 3Nb2 ∕ 3)O3-0.28PbTiO3单晶的材料性能 附录。物理来吧96012907(2010)
机译:错误:“低频交流电流搅拌对5毫米厚的0.7pb(mg1 / 3nb2 / 3)O3-0.3pbtio3单晶”Appl。物理。吧。 115,192904(2019)
机译:a-sITE-aND /或B-sITE-mODIFIED pBZRTIO3材料和(pB,sR,Ca,Ba,mG)(ZR,TI,NB,Ta)O3薄膜,具有铁电随机存取存储器和高性能薄膜微处理器的实用性