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Advanced Plasma Processing: Etching, Deposition, and Wafer Bonding Techniques for Semiconductor Applications

机译:先进的等离子体处理:用于半导体应用的蚀刻,沉积和晶圆键合技术

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摘要

Plasma processing techniques are one of the cornerstones of modern semiconductorudfabrication. Low pressure plasmas in particular can achieve high radical density, highudselectivity, and anisotropic etch profiles at low temperatures and mild voltages. This gentleudprocessing environment prevents unwanted diffusion and degradation of materials due toudheat and lattice damage from ion bombardment. Plasma treatments have a minimal effectudon existing wafer structure, which is a key requirement for large scale integration schemesudsuch as CMOS. In addition, recent progress in plasma-assisted wafer bonding hasuddemonstrated low temperature, low pressure recipes utilizing O_2 plasma surface treatmentudfor joining dissimilar semiconductor materials, such as silicon (Si) and indium phosphideud(InP) (Fang et al., 2006).
机译:等离子体处理技术是现代半导体制造的基石之一。低压等离子体尤其可以在低温和温和电压下实现高自由基密度,高非选择性和各向异性刻蚀曲线。这种温和的 udprocessing环境可防止由于离子轰击引起的 udheat和晶格损坏而引起的有害物质扩散和降解。等离子体处理对现有晶圆结构的影响最小,这是大规模集成方案(例如CMOS)的关键要求。此外,等离子辅助晶圆键合的最新进展证明了采用O_2等离子体表面处理的低温低压配方 ud可以用于连接不同的半导体材料,例如硅(Si)和磷化铟 ud(InP)(Fang等人(2006年)。

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