首页> 外文OA文献 >Highly electronegative metallic contacts to semiconductors using polymeric sulfur nitride
【2h】

Highly electronegative metallic contacts to semiconductors using polymeric sulfur nitride

机译:使用聚合氮化硫与半导体的高度负电性金属触点

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

The Schottky barriers formed on n‐ZnS and n‐ZnSe by polymeric sulfur nitride have been compared to barriers formed by Au. Barrier energies as determined by photoresponse, current‐voltage, and capacitance‐voltage methods show that (SN)_x is approximately 1.0 eV higher than Au on n‐ZnS and 0.3–0.4 eV higher than Au on n‐ZnSe. We believe that this is the first report of any metallic contact more electronegative than Au.
机译:聚合氮化硫在n-ZnS和n-ZnSe上形成的肖特基势垒已与Au形成的势垒进行了比较。由光响应,电流电压和电容电压方法确定的势垒能量表明,(SN)_x在n-ZnS上比Au高约1.0 eV,在n-ZnSe上比Au高0.3-0.4 eV。我们认为,这是关于任何金属接触均比Au更具负电性的报道。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号