首页> 外文OA文献 >Position sensitive x-ray spectrophotometer using microwave kinetic inductance detectors
【2h】

Position sensitive x-ray spectrophotometer using microwave kinetic inductance detectors

机译:使用微波动电感检测器的位置敏感X射线分光光度计

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

The surface impedance of a superconductor changes when energy is absorbed and Cooper pairs are broken to produce single electron (quasiparticle) excitations. This change may be sensitively measured using a thin-film resonant circuit called a microwave kinetic inductance detector (MKID). The practical application of MKIDs for photon detection requires a method of efficiently coupling the photon energy to the MKID. The authors present results on position sensitive x-ray detectors made by using two aluminum MKIDs on either side of a tantalum photon absorber strip. Diffusion constants, recombination times, and energy resolution are reported. MKIDs can easily be scaled into large arrays.
机译:超导体的表面阻抗在吸收能量并且库珀对断裂以产生单电子(准粒子)激发时发生变化。可以使用称为微波动电感检测器(MKID)的薄膜谐振电路灵敏地测量此变化。 MKID在光子检测中的实际应用需要一种有效地将光子能量耦合到MKID的方法。作者介绍了通过在钽光子吸收带两侧使用两个铝制MKID制成的位置敏感型X射线探测器的结果。报告了扩散常数,重组时间和能量分辨率。 MKID可以轻松扩展为大型阵列。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号