Bu çalışmada, ZnO ince filmler; 350, 400 ve 450 °C üç farklı sıcaklıktaki alttaşa ultrasonik sprey piroliz yöntemi ile biriktirilmiştir. ZnO ince film üretiminde çinko kaynağı olarak çinko asetat dihidrat (Zn(CH3COO)2.2H2O) kullanılmıştır. Yapılan XRD analizleri, ZnO ince filmlerin, nano boyutta hekzagonal yapıda ve baskın pik pozisyonunun (100) düzleminde olduğunu doğrulamıştır. Kristal tane boyutu Debye-Scherrer formülü kullanılarak hesaplanmış ve 324.7-442.3 Å aralığında bulunmuştur. SEM yüzey görüntüleri incelendiğinde ZnO ince filmlerin homojen bir şekilde kaplandığı ve SEM kesit görüntülerinden kalınlıkların ~251-286 nm aralığında değiştiği görülmektedir. Filmlerin yüzey pürüzlülüğü AFM ile incelenmiş ve yüzey pürüzlülük değerleri 23.00-43.44 nm aralığında elde edilmiştir. ZnO ince filmlerin UV spektrumlarından, optik geçirgenlikleri %80' in üzerinde bulunurken, yasak enerji aralıkları 3.13-3.26 eV olarak bulunmuştur.
展开▼
