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Temperature‐dependent transmission extended electron energy‐loss fine structure of aluminum

机译:铝的温度依赖性传输扩展了电子能量损失的精细结构

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摘要

Inelastic electron scattering experiments in a transmission electron microscope provide a probe of core electron excitations that have binding energies below 2 keV, and that are localized within submicron diameter sample volumes. Extended electron energy‐loss fine‐structure measurements which show the variation with temperature of the mean squared relative displacement of aluminum yield a localized measurement of the Debye temperature which is in excellent agreement with macroscopic measurements.
机译:透射电子显微镜中的非弹性电子散射实验提供了核心电子激发的探针,其结合能低于2 keV,并位于亚微米直径的样品体积内。扩展的电子能损细结构测量结果显示出铝的均方根相对位移随温度的变化,从而产生了德拜温度的局部测量值,这与宏观测量结果极为吻合。

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