Surface Potential Measurements of Organic Thin-Film Transistors by Kelvin-Probe Force Microscopy

机译：在栅极电压扫描期间，通过开尔文-探针力显微镜观察从有机薄膜晶体管通道中排出的捕获电荷

机译：通过泵浦探针开尔文探针力显微镜跟踪有机场效应晶体管中的减速带

机译：通过开尔文探针力显微镜在有机场效应晶体管中的过境现象

机译：缀合分子对金属表面的表面电位：使用静电力显微镜测量使用初步物理基于基于初步物理的模型进行测量。

机译：原子力显微镜的静电双层电位的两个电极测量

机译：曲面上有机薄膜晶体管阵列的热成型

机译：Kelvin力显微镜的表面电位测量的现状。开尔文力显微镜腐蚀反应分析金属腐蚀反应。

机译：用于有机电子设备和有机电子设备或有机薄膜晶体管的电极，使用与有机电子设备和有机薄膜晶体管相同或制造的方法，以及用于修饰电极表面的方法

机译：利用耦合因子提取非晶半导体薄膜晶体管的状态和表面势的亚能隙密度的方法及其装置

机译：开尔文探针力显微镜测量表面电位的方法