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【2h】

Localization events-based sample drift correction for localization microscopy with redundant cross-correlation algorithm

机译：基于事件的定位事件与冗余交叉相关算法定位显微镜的样本漂移校正

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Yina Wang; Joerg Schnitzbauer; Zhe Hu; Xueming Li; Yifan Cheng; Zhen-Li Huang; Bo Huang;
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年度 2014
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