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【2h】

Failures in power-combining arrays

机译:功率合并阵列中的故障

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摘要

We derive a simple formula for the change in output when a device fails in a power-combining structure with identical matched devices. The loss is written in terms of the scattering coefficient of the failed device and reflection coefficient of an input port in the combining network. We apply this formula to several power combiners, including arrays in free space and enclosed waveguide structures. Our simulations indicate the output power degrades gracefully as devices fail, which is in agreement with previously published results.
机译:当设备在具有相同匹配设备的电源组合结构中发生故障时,我们导出输出变化的简单公式。损失用故障设备的散射系数和组合网络中输入端口的反射系数来表示。我们将此公式应用于多个功率合成器,包括自由空间中的阵列和封闭的波导结构。我们的仿真表明,随着设备出现故障,输出功率会正常降低,这与先前发布的结果一致。

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