Strain Mapping of Layers and Devices Using Electron Holography

机译：使用电子全息术层和器件的应变映射

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1. Strain mapping in layers and devices by electron holography [J] . Martin Hytch, Nikolay Cherkashin, Shay Reboh, Physica status solidi . 2011,第3期

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2. Dual-Lens Electron Holography for Junction Profiling and Strain Mapping on Semiconductor Devices [J] . Yun-Yu Wang, Anthony Domenicucci, John Bruley Electronic Device Failure Analysis: A Resource for Technical Information and Industry Developments . 2014,第1期

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3. Strain mapping of LED devices by dark-field inline electron holography: Comparison between deterministic and iterative phase retrieval approaches [J] . Kyung Song, Ga-Young Shin, Jong Kyu Kim Ultramicroscopy . 2013,第Null期

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