机译:具有不同表面和沟道方向的块状,超薄体SOI和双栅极n-MOSFET的低场迁移模型—第二部分:超薄硅膜
机译:通过超高温栅极氧化和低氧分压冷却提高4H-SiC n-MOSFET的沟道迁移率
机译:Goatelength对高频应用的InGaAs / InAs / InGaAs复合通道双材料双栅极高电子移动性晶体管装置的影响
机译:具有高迁移率通道:III-V,Ge和Si的15nm栅极长度双栅极n-MOSFET的性能评估
机译:45 nm栅极长度n-MOSFET陷阱引起的阈值电压波动仿真的比较分析和分析模型预测。
机译:双栅三有源层沟道用于AMOLED像素电路的IGZO薄膜晶体管的设计与分析
机译:基于金属栅极功函数的阈值电压灵敏度基于LSTP技术的双栅极n-FinFET结构的性能评估