首页> 外文OA文献 >Exposing latent fingermarks on problematic metal surfaces using time of flight secondary ion mass spectroscopy

【2h】

Exposing latent fingermarks on problematic metal surfaces using time of flight secondary ion mass spectroscopy

机译：使用飞行中的二次离子质谱的时间暴露在有问题的金属表面上的潜在指纹

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Tshaiya Devi Thandauthapani; Adam J. Reeve; Adam S. Long; Ian J. Turner; James S. Sharp;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2018
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Exposing latent fingermarks on problematic metal surfaces using time of flight secondary ion mass spectroscopy [J] . Tshaiya Devi Thandauthapani, Adam J. Reeve, Adam S. Long, Science & justice: journal of the Forensic Science Society . 2018,第6期

机译：使用飞行时间二次离子质谱曝光在有问题的金属表面上暴露潜在的Fingermarks
2. Time-of-flight secondary ion mass spectroscopy with bismuth primary ions of clean and air-exposed surfaces of tellurium [J] . Trzyna Malgorzata, Berchenko Nicolas, Rading Derk, European journal of mass spectrometry . 2014,第6期

机译：飞行时间二次离子质谱法，在干净和空气暴露的碲表面上使用铋一次离子
3. Chemical Characterization of Latent Fingerprints by Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization, Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, Mega Electron Volt Secondary Mass Spectrometry, Gas Chromatography/Mass Spectrometry, X-ray Photoelectron Spectroscopy, and Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared Spectroscopic Imaging: An Intercomparison [J] . Melanie. J. Bailey, Nicholas J. Bright, Ruth S. Croxton, Analytical chemistry . 2012,第20期

机译：通过基质辅助激光解吸电离，飞行时间二次离子质谱，兆电子伏特二次质谱，气相色谱/质谱，X射线光电子能谱和衰减全反射傅立叶变换红外光谱对潜在指纹进行化学表征成像：比较
4. Establishing the Biocompatibility of Intraocular Lens Surfaces Using X-Ray Photoelectron Spectroscopy and Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry [C] . Presenting Daniel J. Hook Annual meeting of the Society for Biomaterials . 2011

机译：使用X射线光电子能谱和飞行时间二次离子质谱法建立人工晶状体表面的生物相容性
5. Applications of time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) to study interactions of genetically engineered proteins with noble metal films. [D] . Suzuki, Noriaki. 2006

机译：飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）和X射线光电子能谱（XPS）在研究遗传工程蛋白与贵金属膜之间的相互作用中的应用。
6. Latent Fingermark Imaging by Single-Metal Deposition of Gold Nanoparticles and Surface Enhanced Raman Spectroscopy [O] . Gitanjali Kolhatkar, Cédric Parisien, Andreas Ruediger, 1970

机译：通过金纳米粒子的单金属沉积和表面增强拉曼光谱的潜在指纹成像。
7. Chemical characterization of latent fingerprints by matrix-assisted laser desorption ionization, time-of-flight secondary ion mass spectrometry, mega electron volt secondary mass spectrometry, gas chromatography/mass spectrometry, X-ray photoelectron spectroscopy, and attenuated total reflection Fourier transform infrared spectroscopic imaging: an intercomparison [O] . Bailey, Melanie J., Bright, Nicholas J., Croxton, Ruth S., 2012

机译：潜在指纹的化学表征，包括基质辅助激光解吸电离，飞行时间二次离子质谱，兆电子伏特二次质谱，气相色谱/质谱，X射线光电子能谱和衰减全反射傅里叶变换红外光谱成像：比较

Exposing latent fingermarks on problematic metal surfaces using time of flight secondary ion mass spectroscopy

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅