机译:通过测量有机薄膜中箱和C60离子的植入和采样深度来探索TOF二次离子质谱法的表面敏感性
机译:通过测量有机膜中Bi_(n)和C_(60)离子的注入和采样深度探索TOF二次离子质谱的表面灵敏度
机译:低温样品分析对TOF-二次离子质谱法分子深度分布的影响
机译:低温样品分析对TOF-二次离子质谱法分子深度分布的影响
机译:使用激光解吸电离的成像质谱与有机薄膜的深度分析
机译:使用依赖于深度的阴极发光光谱法和二次离子质谱法研究氮化铝镓膜和镍/氮化铝镓肖特基二极管。
机译:通过测量箱和C60离子在有机薄膜中的植入和取样深度来探索TOF-SIMS的表面敏感性
机译:使用C60溅射的X射线光电子能谱深度剖析有机薄膜
机译:通过直接取样辉光放电质谱和离子阱质谱进行快速环境有机分析:试点研究摘要。总结报告。