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【2h】

Reliability-Enhanced ECC-Based Memory Architecture Using In-Field Self-Repair

机译：可靠性增强的基于ECC的内存架构，使用现场自修复

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Gian MAYUGA; Yuta YAMATO; Tomokazu YONEDA; Yasuo SATO; Michiko INOUE;
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年度 2016
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1. Reliability-Enhanced ECC-Based Memory Architecture Using In-Field Self-Repair [J] . Gian MAYUGA, Yuta YAMATO, Tomokazu YONEDA, IEICE transactions on information and systems . 2016,第10期

机译：使用现场自我修复的基于可靠性的，基于ECC的内存架构
2. Reliability of ECC-based Memory Architectures with Online Self-repair Capabilities [J] . Gian MAYUGA, Yuta YAMATO, Tomokazu YONEDA, 電子情報通信学会技術研究報告. ディペンダブルコンピュ-ティング. Dependable Computing . 2014,第384期

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3. Highly Reliable Memory Architecture Using Adaptive Combination of Proactive Aging-Aware In-Field Self-Repair and ECC [J] . Mayuga Gian, Sato Yasuo, Inoue Michiko IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 2020,第8期

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