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Nonlinear behavior of microwave semiconductor materials measured under a strong electromagnetic environment using a compressed rectangular resonant cavity

机译：使用压缩矩形谐振腔在强电磁环境下测量的微波半导体材料的非线性行为

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E. Li; Y. Gao; Y. Zhang; C. Gao; H. Zheng; Z. Zeng;
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年度 2017
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1. Nonlinear behavior of microwave semiconductor materials measured under a strong electromagnetic environment using a compressed rectangular resonant cavity [J] . E. Li, Y. Gao, Y. Zhang, Applied Physics . 2017,第6期

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2. Measurement of Nonlinear Dielectric Behaviour of Semiconductor Material Under Microwave Field in Dual-Mode Rectangular Cavity [J] . Yong Gao, En Li, Gaofeng Guo Journal of Electronic Testing: Theory and Applications: Theory and Applications . 2018,第2期

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