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机译:使用单次双波长差分图像分析,片上芯片多粒子速度和尺寸测量
Shuya Sawa; Mitsuru Sentoku; Kenji Yasuda;
机译:基于粒径,尺寸和速度测量来估计颗粒的不透明流的光学厚度作为实现断层摄影分析的方法
机译:通过筛分分析和基于图像分析的粒度测量确定用于生产刨花板的木材颗粒的粒度分布
机译:在线成像测量颗粒两相流中的粒径,速度和浓度
机译:通过两波长条纹成像测量颗粒温度和速度
机译:冲击粒度,形状和速度对单粒子变形测量和预测的影响
机译:使用单次双波长差分图像分析片上芯片多粒子速度和尺寸测量
机译:使用立体成像技术测量粒子的速度和大小
机译:粒子尺寸和速度测量使用粒子图像测速
机译:粒度分布测量装置,粒子分析单元,粒度分布测量装置的程序,以及泡沫去除方法
机译:粒子尺寸测量单元,使用粒子尺寸测量单元的粒子尺寸测量方法,粒子尺寸测量装置和粒子尺寸校正方法
机译:用于数据处理设备的粒径分布测量和配备有该装置的粒径分布测量设备,以及用于数据处理方法的粒径分布测量,以及粒径分布测量数据处理程序
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