机译:烧结温度对Zn中心点Pr中心点Co中心点Cr中心点La氧化物基压敏电阻组织和电性能的影响
机译:烧结时间对Zn-Pr-Co-Cr-Dy氧化物基压敏电阻电性能和直流加速老化行为的影响
机译:烧结温度对(CoO,Cr_2O_3,La_2O_3)掺杂的ZnO-Pr_6O_(11)基压敏电阻非线性电性能和直流加速老化应力稳定性的影响
机译:氧化物基顶栅TFT在电和光应力测试下的不稳定性行为
机译:端子速度下降时,电应力水滴的变形和不稳定。
机译:优化Bi2O3和TiO2以实现ZnO低压敏电阻的最大非线性电性能
机译:烧结温度对Zn-Pr-CR-ER氧化物基压敏电阻抗震应力电稳定性的影响
机译:烧结规程和样品几何对高场压敏电阻材料电学和物理性能的影响