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Determining the Thickness of a Trilayer Thin-Film Structure by Fourier-Transform Analysis

机译：通过傅立叶变换分析确定三层薄膜结构的厚度

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Hyun-Ju Cho; Jun-Yeon Won; Young-Gyu Jeong; Bong-Ju Woo; Jun-Ho Yoon; Chang-Kwon Hwangbo;
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年度 2016
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