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【2h】

Characterization of the Oxidized .BETA.-Si3N4 Whisker Surface Layer Using XPS and TOF-SIMS.

机译：XPS和TOF-SIMS的氧化型.Beta.-Si3N4晶须表面层的表征。

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Masahiro TOKUSE; Ryuji OYAMA; Hamazo NAKAGAWA; Ichiro NAKABAYASHI;
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年度 2001
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1. Characterization of the Oxidized β-Si3N4 Whisker Surface Layer Using XPS and TOF-SIMS [J] . Masahiro TOKUSE, Ryuji OYAMA, Hamazo NAKAGAWA, Analytical Sciences . 2001,第2期

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