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Methods for Vertical Drift Measurements of Scanning Probe Microscopes

机译：扫描探针显微镜垂直漂移测量方法

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Dun NIU; Yuhang CHEN; Wenhao HUANG;
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年度 2011
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1. Methods for Vertical Drift Measurements of Scanning Probe Microscopes [J] . Dun NIU, Yuhang CHEN, Wenhao HUANG Analytical Sciences . 2011,第2期

机译：扫描探针显微镜垂直漂移测量方法
2. Simplified drift characterization in scanning probe microscopes using a simple two-point method [J] . Charles A Clifford, Martin P Seah Measurement Science & Technology . 2009,第9期

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3. Quantitative method of image analysis when drift is present in a scanning probe microscope [J] . S. H. Huerth, H. D. Hallen Journal of Vacuum Science & Technology. B, Microelectronics and Nanometer Structure . 2003,第2期

机译：扫描探针显微镜中存在漂移时的图像分析定量方法
4. Towards automatic nanomanipulation: drift compensation in scanning probe microscopes [C] . Mokaberi, B., Requicha, Robotics and Automation, 2004. Proceedings. ICRA '04. 2004 IEEE International Conference on . 2004

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5. Quantitative capacitance measurements using a scanning probe microscope. [D] . Ott, Michael. 2006

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7. Optical method for distance and displacement measurements of the probe-sample separation in a scanning near-field optical microscope [O] . L. Santamaria, C. E. Garcia-Ortiz, H. R. Siller, 2016

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8. Vertically Aligned Nanostructure Scanning Probe Microscope Tips. [R] . Guillorn, M. A., Ilic, B., Melechko, A. V., 2003

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