首页> 外文OA文献 >Electron microscopy and diffraction of defects, nanostructures, interfaces and amorphous materials Conference to mark the retirement of Professor David Cockayne FRS Oxford, 7 September 2009

【2h】

Electron microscopy and diffraction of defects, nanostructures, interfaces and amorphous materials Conference to mark the retirement of Professor David Cockayne FRS Oxford, 7 September 2009

机译：电子显微镜和缺陷的衍射，纳米结构，界面和非晶材料会议，标志着2009年9月7日的David Cockayne Frs牛津教授退休

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
相似文献
相关主题

著录项

作者
Peter Hirsch; Angus Kirkland; Peter Nellist;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2010
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献

1. Electron microscopy and diffraction of defects, nanostructures, interfaces and amorphous materials Conference to mark the retirement of Professor David Cockayne FRS Oxford, 7 September 2009 [J] . Peter Hirsch Angus Kirkland Peter Nellist Philosophical Magazine . 2010,第35a36期

机译：电子显微镜和缺陷，纳米结构，界面和非晶态材料的衍射，纪念戴维·科凯恩教授退休的会议FRS牛津大学，2009年9月7日
2. Preface: Electron microscopy and diffraction of defects, nanostructures, interfaces and amorphous materials Conference to mark the retirement of Professor David Cockayne FRS Oxford, 7 September 2009 [J] . Hirsch P., Kirkland A., Nellist P. Philosophical magazine: structure and properties of condensed matter . 2010,第35a36期

机译：前言：缺陷，纳米结构，界面和非晶态材料的电子显微镜和衍射纪念戴维·库凯恩教授退休的会议牛津FRS牛津大学，2009年9月7日
3. Professor D.J.H. Cockayne FRS: An appreciation in honour of his retirement in September 2009 [J] . P.B. Hirscha* Philosophical Magazine . 2010,第35a36期

机译：D.J.H.教授Cockayne FRS：感谢他在2009年9月退休
4. High resolution transmission electron microscopy of defects and interfaces in semiconducting materials. [D] . Ponce, Fernando Agustin. 1998

机译：半导体材料中的缺陷和界面的高分辨率透射电子显微镜。
5. Study of the Microstructure of Amorphous Silica Nanostructures Using High-Resolution Electron Microscopy Electron Energy Loss Spectroscopy X-ray Powder Diffraction and Electron Pair Distribution Function [O] . Lahcen Khouchaf, Khalid Boulahya, Partha Pratim Das, 2020

机译：高分辨率电子显微镜电子能损光谱X射线粉衍射和电子对分布函数的非晶二氧化硅纳米结构的微观结构研究
6. Application of High Resolution Electron-Microscopy to the Study of Carbonaceous Materials (Commemoration Issue Dedicated to Professor Eiji Suito on the Occasion of his Retirement) [O] . Oberlin A., Boulmier J. L., Terriere G. T. 1975

机译：高分辨率电子显微镜在碳质材料研究中的应用（纪念版专供永住英二教授退休之用）

Electron microscopy and diffraction of defects, nanostructures, interfaces and amorphous materials Conference to mark the retirement of Professor David Cockayne FRS Oxford, 7 September 2009

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅