机译:利用山底峰型纳米机械映射AFM基法的高分辨率杨氏模量测量
机译:利用PeakForce〜(TM)定量纳米机械映射基于AFM的方法进行聚合物的高分辨率杨氏模量测量
机译:使用共振纳米力学测量原子薄层沉积膜的杨氏模量和密度
机译:使用共振纳米力学测量原子薄层沉积膜的杨氏模量和密度
机译:原子力显微镜用于高分辨率杨氏模量的测量
机译:基于AFM的聚合物薄膜机械性能的测量以及几乎折射率匹配的腔的光路长度的确定。
机译:磁驱动软探针在宽模量范围内进行纳米力学标测
机译:TI3C2 MXENENOELS的杨氏模量和拉伸强度,如原位TEM探测,AFM纳米力学映射和理论计算所揭示的
机译:原位无损测量板结构杨氏模量的方法