首页> 外文OA文献 >Microstructural Properties and Defect Evolution on Nitride Compound Semiconductors Grown on Patterned Substrates: A Transmission Electron Microscopy Study

【2h】

Microstructural Properties and Defect Evolution on Nitride Compound Semiconductors Grown on Patterned Substrates: A Transmission Electron Microscopy Study

机译：在图案化基板上生长的氮化物化合物半导体的微观结构性质和缺陷演化：透射电子显微镜研究

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Y Kim; Y Noh; S Han; M Kim;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2011
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Microstructural properties and dislocation evolution on a GaN grown on patterned sapphire substrate: A transmission electron microscopy study [J] . Y. H. Kim, H. Run, Y. K. Noh, Journal of Applied Physics . 2010,第6期

机译：图案化蓝宝石衬底上生长的GaN的微结构性质和位错演化：透射电子显微镜研究
2. Transmission electron microscopy study of microstructural properties and dislocation characterization in the GaN film grown on the cone-shaped patterned Al2O3 substrate. [J] . Jung Sik Park, Jun-Mo Yang, Kyung Jin Park, Microscopy . 2014,第1期

机译：透射电子显微镜研究在锥形图案化的Al2O3衬底上生长的GaN膜的微观结构特性和位错特征。
3. Microstructural characteristics of AlN thin layers grown on Si(110) substrates by molecular beam epitaxy: Transmission electron microscopy study [J] . Y.H. Kim, J.H. Lee, Y.K. Noh, Thin Solid Films . 2015,第feba2期

机译：通过分子束外延生长在Si（110）衬底上生长的AlN薄层的微观结构特征：透射电子显微镜研究
4. Microstructural Properties and Defect Evolution on Nitride Compound Semiconductors Grown on Patterned Substrates: A Transmission Electron Microscopy Study [C] . Y.H. Kim, Y.K. Noh, S.H. Han, International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting . 2011

机译：图案化衬底上生长的氮化物化合物半导体的微观结构特性和缺陷演化：透射电子显微镜研究
5. Electronic defects of III-V compound semiconductor materials grown on metamorphic silicon-germanium substrates for photovoltaic applications. [D] . Gonzalez, Maria. 2009

机译：在变质硅锗衬底上生长的III-V族化合物半导体材料的电子缺陷，可用于光伏应用。
6. The Microstructural Characterization of Multiferroic LaFeO3-YMnO3 Multilayers Grown on (001)- and (111)-SrTiO3 Substrates by Transmission Electron Microscopy [O] . Bin Pang, Lei Sun, Xuan Shen, 2017

机译：（001）-和（111）-SrTiO3衬底上生长的多铁性LaFeO3-YMnO3多层膜的显微结构表征
7. The Microstructural Characterization of Multiferroic LaFeO3-YMnO3 Multilayers Grown on (001)- and (111)-SrTiO3 Substrates by Transmission Electron Microscopy [O] . Bin Pang, Lei Sun, Xuan Shen, 2017

机译：通过透射电子显微镜通过透射电子显微镜在（001） - 和（111）-SRTIO3基板上生长的多二二二二二二二二二二二二聚体的微观结构表征
8. Electron Microscopy Studies of Potential 1-eV Bandgap Semiconductor Compounds ZnGeAs2 and Zn3As2 Grown by MOVPE: Preprint. [R] . Norman, A. G. 2001

机译：电子显微镜研究潜在的1-eV带隙半导体化合物ZnGeas2和Zn3as2由mOVpE生长：预印。

Microstructural Properties and Defect Evolution on Nitride Compound Semiconductors Grown on Patterned Substrates: A Transmission Electron Microscopy Study

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅