机译:使用具有缺陷模式的光子晶体的方法测量非平衡载体浓度及其寿命的方法
机译:纳米晶体氧化物半导体不同晶粒尺寸氧化氧化,晶粒电位和载流子浓度的影响:数值模拟方法
机译:用于测量半导体中非平衡电荷载流子寿命的非接触方法
机译:用光学方法研究氮掺杂和硼掺杂的单晶HPHT金刚石的非平衡载流子寿命
机译:自由电子激光研究载流子寿命以及半导体和离子晶体的寿命设计
机译:半导体中缺陷陷阱分布中的少数载流子动力学:在三角硒单晶中的应用。
机译:通过光致发光成像测量跨多晶半导体中多个晶粒的远程载流子扩散
机译:识别具有高少数载流子的耐缺陷半导体 寿命:超越混合卤化铅的钙钛矿
机译:用于测量直接带隙半导体中的少数载流子寿命的方法和装置