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【2h】

Reconstruction of Atomic Resolution STEM Images Using the Diffraction-Imaging Method with an Aberration-Corrected STEM

机译：使用像差校正杆的衍射成像方法重建原子分辨率茎图像

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作者
E Okunishi; H Sawada; Y Kondo;
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年度 2011
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1. Aberration-corrected STEM for atomic-resolution imaging and analysis [J] . Krivanek O. L., Lovejoy T. C., Dellby N. Journal of Microscopy . 2015,第3期

机译：像差校正的STEM用于原子分辨率的成像和分析
2. Prospects of atomic resolution imaging with an aberration-corrected STEM. [J] . Ishizuka K Journal of Electron Microscopy . 2001,第4期

机译：像差校正STEM原子分辨率成像的前景。
3. Prospects of atomic resolution imaging with an aberration-corrected STEM. [J] . Ishizuka K Journal of Electron Microscopy . 2001,第4期

机译：像差校正STEM原子分辨率成像的前景。
4. Reconstruction of Atomic Resolution STEM Images Using the Diffraction-Imaging Method with an Aberration-Corrected STEM. [C] . Eiji Okunishi, Hidetaka Sawada, Yukihito Kondo International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting . 2011

机译：使用像差校正STEM的衍射成像方法重建原子分辨率STEM图像。
5. Super -resolution image reconstruction for diverse imaging systems [D] . Lan, Hsueh-Ban 2006

机译：用于各种成像系统的超分辨率图像重建
6. Interfacial atomic structure analysis at sub-angstrom resolution using aberration-corrected STEM [O] . Chien-Nan Hsiao, Shou-Yi Kuo, Fang-I Lai, 2014

机译：使用像差校正的STEM在亚埃分辨率下进行界面原子结构分析
7. Atomic-resolution Observations of Grain Boundary Segregation in Multiphase Ceramics by Aberration-corrected STEM [O] . Komal Syed, Mingjie Xu, David Kok, 2020

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