机译:在6英寸N掺杂的低电阻率SiC基板上的常压P-GaN栅极AlGaN / GaN Hemts的高热耗散
机译:用于功率应用的SiC和Si衬底上常关p-GaN栅极AlGaN / GaN HEMT的高温性能
机译:SiC衬底上生长的150nm和250nm栅长AlGaN / GaN HEMT的直流热特性和小信号参数
机译:栅极长度变化和陷阱效应对SiC衬底上AlGaN / GaN HEMT的瞬态响应的影响
机译:通过TCAD模拟和测量对在Si和SiC衬底上生长的AlN / GaN / AlGaN HEMT进行热分析
机译:研究常关模式的AlGaN / GaN MOS HEMT器件,该器件利用栅极后退和p-GaN栅极结构以及带有醛生长的高k栅极绝缘体来实现高功率应用。
机译:在6英寸N掺杂的低电阻率SiC基板上的常压P-GaN栅极AlGaN / GaN Hemts的高热耗散
机译:动态R 对SIC基材P-GaN Algan / GaN Hemts降解的动态R 的热效应