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【2h】

IMAGE VALIDATION OF PARALLEL SCANNING TUNNELING MICROSCOPY WITH A CMOS MEMS PROBE ARRAY

机译：用CMOS MEMS探头阵列并行扫描隧道显微镜的图像验证

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作者
Y. Zhang; Y. Tang; L.R. Carley; G.K. Fedder;
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年度 2014
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