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【2h】

Characterization of microstructures of thermal oxide scales on silicon carbide using transmission electron microscopy

机译：透射电子显微镜碳化硅碳化硅微观结构的表征

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Bralee CHAYASOMBAT; Takeharu KATO; Tsukasa HIRAYAMA; Tomoharu TOKUNAGA; Katsuhiro SASAKI; Kotaro KURODA;
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年度 2012
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