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机译:利用循环干涉仪在偏振相移技术中确定透明薄膜的厚度
Rapeepan Kaewon; Chutchai Pawong; Ratchapak Chitaree; Tossaporn Lertvanithphol; Apichai Bhatranand;
机译:基于横向剪切干涉仪和偏振相移技术的多波长波前检测
机译:使用循环路径光学配置设置和横向剪切干涉仪同时测定中等厚度的平面平行透明玻璃板的折射率和厚度
机译:具有两个偏振分束器板的偏振相移横向剪切干涉仪
机译:通过光谱分辨的相移干扰法测定透明薄膜层的厚度测量
机译:偏振相移点衍射干涉仪。
机译:基于具有纳米厚度的薄膜晶体管的灵活透明的人工突触装置勘误
机译:使用偏振态分离进行数字相移剪切成像的几乎通用路径干涉仪
机译:自参考干涉仪波前传感器(后印刷)的相移技术评估
机译:用于确定透明容器壁厚的光学测量技术使用从干涉仪获得的两条光束来确定到达目标和参考反射器的光路长度
机译:干涉仪,即光谱干涉仪,用于层厚度测量,在光路中布置了光缆,以完全控制波长和/或偏振相关的对厚度测量结果的影响
机译:相移干涉法测量薄膜/基板测试样品表面的薄膜厚度和台阶高度的方法
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