机译:高温下散装热电材料中塞贝克系数和电阻率测量的实验系统
机译:AgSbSe_2薄膜的低温TEP测量的光学和电学性质以及声子拖曳效应
机译:使用在100摄氏度的极低温度下制造的氧化钛材料改善机械柔韧性薄膜器件的介电柔韧性和电性能
机译:多孔建筑材料电气性能的实验监测暴露于低温下的电气性能
机译:复合材料的温度依赖性机械性能和实验测量的不确定性。
机译:低温下热控制材料的光谱发射率测量设备
机译:低温测量的实验技术:低温测量的低温设计,材料性能和超导体临界电流测试实验技术,用于低温测量:低温恒温器设计,材料特性和超导体临界电流测试,杰克W. ekin,牛津U.按,纽约,2006年。$ 125.00(673 pp)。 ISBN 978-0-19-857054-7
机译:材料的电学特性及其低温测量