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【2h】

A Hybrid Approach for Fast and Accurate Trace Signal Selection for Post-Silicon Debug

机译：用于硅后调试的快速准确跟踪信号选择的混合方法

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Min Li; Azadeh Davoodi;
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年度 2014
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1. A Hybrid Approach for Fast and Accurate Trace Signal Selection for Post-Silicon Debug [J] . Li M., Davoodi A. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on . 2014,第7期

机译：用于硅后调试的快速准确的跟踪信号选择混合方法
2. Efficient Selection of Trace and Scan Signals for Post-Silicon Debug [J] . Rahmani Kamran, Proch Sudhi, Mishra Prabhat Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on . 2016,第1期

机译：有效的跟踪和扫描信号选择，用于硅后调试
3. Cluster Restoration-Based Trace Signal Selection for Post-Silicon Debug [J] . Cheng Yun, Li Huawei, Wang Ying, IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 2019,第4期

机译：基于集群恢复的跟踪信号选择，用于后硅调试
4. A hybrid approach for fast and accurate trace signal selection for post-silicon debug [C] . Li Min, Davoodi Azadeh Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition;DATE 2013 . 2013

机译：用于硅后调试的快速准确选择跟踪信号的混合方法
5. Trace signal selection for post-silicon debug. [D] . Li, Min. 2014

机译：跟踪信号选择，用于后硅调试。
6. A debug scheme to improve the error identification in post-silicon validation [O] . Inhyuk Choi, Won Jung, Hyunggoy Oh, 2012

机译：一种调试方案，用于改进硅后验证中的错误识别
7. A Post-Silicon Trace Analysis Approach for System-on-Chip Protocol Debug [O] . Yuting Cao, Hao Zheng, Hernan Palombo, 2017

机译：用于系统片上协议调试的硅跟踪分析方法

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