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【2h】

Semiconductor parameter extraction via current-voltage characterization and Bayesian inference methods

机译：半导体参数提取通过电流 - 电压表征和贝叶斯推理方法

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作者
Rachel C. Kurchin; Jeremy R. Poindexter; Daniil Kitchaev; Ville Vahanissi; Carlos del Canizo; Liu Zhe; Hannu S. Laine; Chris Roat; Sergiu Levcenco; Gerbrand Ceder; Tonio Buonassisi;
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年度 2018
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