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【2h】

Highly Brilliant Synchrotron Radiation Operando Spectromicroscopy to Bridge a Gap between Material Electronic Properties and Device Performances of 2D Atomic Layers

机译：高度辉煌的同步辐射辐射探测器探光谱法桥接材料电子特性与2D原子层的装置性能之间的差距

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Hirokazu FUKIDOME;
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年度 2015
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