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Highly Brilliant Synchrotron Radiation Operando Spectromicroscopy to Bridge a Gap between Material Electronic Properties and Device Performances of 2D Atomic Layers

机译:高度辉煌的同步辐射辐射探测器探光谱法桥接材料电子特性与2D原子层的装置性能之间的差距

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著录项

  • 作者

    Hirokazu FUKIDOME;

  • 作者单位
  • 年度 2015
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种
  • 中图分类

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