机译:评估温度对电阻缺陷的基于FinFET的动态故障行为的影响
机译:基于纳米FinFET的SRAM单元设计:性能指标,工艺变化,重叠的FinFET和温度效应的分析
机译:TiN FinFET SRAM单元的变异性分析及其独立DG FinFET的补偿
机译:DFT方案可改善FinFET SRAM中难以检测的故障的覆盖率
机译:基于7NM FinFET的6T SRAM细胞瞬态和DC分析性能分析
机译:维生素D补充剂和血红蛋白浓度的荟萃分析:方法论故障模糊了数据的解释
机译:FINFET SRAM中的硬点检测故障的DFT方案