机译:先进金属氧化物半导体器件中等离子体过程引起的损伤的定量和比较表征
机译:用于化合物半导体中的管芯分离的干式等离子划线机蚀刻剂的可行性分析
机译:减轻等离子体对半导体逻辑器件互连中使用的低介电常数层间电介质造成的损害的方法的综述
机译:金属焊盘蚀刻型等离子体损伤在闪存器件中电荷泵送晶体管损伤的栅极氧化物可靠性降解研究
机译:充电和真空紫外线辐射对等离子体处理引起的半导体器件损坏的影响
机译:彗星试验研究淋巴细胞和精子中雌激素化合物对ROS诱导的DNA损伤的机理
机译:用于化合物半导体中管芯分离的干式等离子体划线道蚀刻的可行性分析
机译:化合物半导体器件等离子体刻蚀诱发损伤的研究。