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Recent Developments in High Resolution Electron Microscopy. Challenge to Information Limit of Electron Microscope.

机译：高分辨率电子显微镜的最新发展。电子显微镜信息极限挑战。

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Yoshizo TAKAI;
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年度 1994
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1. Development of a sub-eV resolution soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope. [J] . Terauchi M, Yamamoto H, Tanaka M Journal of Electron Microscopy . 2001,第2期

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2. High resolution electron backscatter diffraction with a field emission gun scanning electron microscope. [J] . Humphreys FJ, Brough I Journal of Microscopy . 1999,第Pta1期

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