机译:具有严重的栅漏介电击穿性能的高级nMOSFET器件的栅极泄漏电流的分析和建模
机译:上漂移区双步局部SOI LDMOSFET:一种提高击穿电压和输出特性的新型器件
机译:双窗口部分SOI-LDMOSFET:一种用于改善击穿电压的新型器件
机译:器件参数对双栅,三栅和全栅MOSFET阈值电压的影响
机译:对绝缘体上硅CMOS器件和电路(包括双栅MOSFET)的基于过程的紧凑建模和分析。
机译:双突变门控扰动分析预测电压门控Na +通道的IV S6区的高构象稳定性
机译:双栅MOSFET通道尺寸的击穿电压偏差
机译:HEmT击穿对器件设计参数依赖性的理论分析