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Whole wafer magnetostriction metrology for magnetic films and multilayers

机译：磁膜和多层的全晶圆磁致伸缩计量

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作者
C B Hill; W R Hendren; R M Bowman; P K McGeehin; M A Gubbins; V A Venugopal;
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年度 2013
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1. Whole wafer magnetostriction metrology for magnetic films and multilayers [J] . C B Hill, W R Hendren, R M Bowman, Measurement Science & Technology . 2013,第4期

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2. THE GIANT MAGNETOSTRICTION AND MAGNETIC PROPERTIES OF THE AMORPHOUS ALTERNANT [Tb/Fe/Dy](n) AND [Fe/Tb/Fe/Dy](m) NANO-MULTILAYER FILMS [J] . Li XD, Pan LK, Zhao ZJ, Surface review and letters . 2008,第5期

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