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【2h】

RESONANT MEMS FOR HIGH RESOLUTION ATOMIC FORCE AND DISPLACEMENT MEASUREMENTS IN LIQUID

机译：用于高分辨率原子力和液体位移测量的共振MEMS

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作者
E. Mehdizadeh; M. Rostami; X. Guo; S. Pourkamali;
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年度 2014
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1. Atomic Resolution Disk Resonant Force and Displacement Sensors for Measurements in Liquid [J] . Mehdizadeh E., Rostami M., Guo X., Electron Device Letters, IEEE . 2014,第8期

机译：用于液体测量的原子分辨率圆盘共振力和位移传感器
2. Note: Thermal analog to atomic force microscopy force-displacement measurements for nanoscale interfacial contact resistance [J] . Brian D. Iverson, John E. Blendell, Suresh V. Garimella Review of Scientific Instruments . 2010,第3期

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3. USE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPY FORCE MEASUREMENTS TO MONITOR CITRATE DISPLACEMENT BY AMINES ON GOLD IN AQUEOUS SOLUTION [J] . Larson I., Drummond CJ., Grieser F., Langmuir: The ACS Journal of Surfaces and Colloids . 1997,第9期

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4. Nano-precision force and displacement measurements using MEMS resonant structures [C] . Mehdizadeh Emad, Guo Xiaobo, Pourkamali Siavash, IEEE Sensors . 2013

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5. Self-calibration for microelectromechanical systems (MEMS) with comb drives: Measurement of flexure width, gap, displacement, force, and stiffness. [D] . Li, Fengyuan. 2012

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6. Fundamental aspects of electric double layer force-distance measurements at liquid-solid interfaces using atomic force microscopy [O] . Jennifer M. Black, Mengyang Zhu, Pengfei Zhang, -1

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8. Atomic Force Microscopy of Liquid-Covered Surfaces: Atomic Resolution Images [R] . Marti, O., Drake, B., Hansma, P. K. 1987

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