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【2h】

Defect structure analysis of polycrystalline materials by computer -controlled double-crystal diffractometer and position-sensitive detector

机译：计算机控制双晶衍射仪和位置敏感探测器的多晶材料缺陷结构分析

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W. Mayo; R. Yazici; T. Takemoto; S. Weissmann;
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年度 1981
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