首页> 外文OA文献 >Superhydrophilization of Si Surface by Atmospheric-Pressure Plasma Jet Irradiation: Analysis by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)

【2h】

Superhydrophilization of Si Surface by Atmospheric-Pressure Plasma Jet Irradiation: Analysis by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)

机译：大气压等离子体喷射辐射Si表面的超顺化：通过飞行时间分析二次离子质谱（TOF-SIMS）

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Hiroshi Kuwahata; Takeshi Haraki; Ikko Mikami;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2013
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Superhydrophilization of Si Surface by Atmospheric-Pressure Plasma Jet Irradiation: Analysis by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) [J] . Hiroshi Kuwahata, Takeshi Haraki, Ikko Mikami Transactions of the Japan Society for Computational Engineering and Science . 2013,第1期

机译：大气压等离子体射流辐射对Si表面的超亲水作用：飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS）
2. Superhydrophilization of Si Surface by Atmospheric-Pressure Plasma Jet Irradiation: Analysis by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) [J] . Hiroshi Kuwahata, Takeshi Haraki, Ikko Mikami E-Journal of Surface Science and Nanotechnology . 2013,第3期

机译：大气压等离子体射流辐射对Si表面的超亲水作用：飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS）
3. Analysis of Ink/Coating Penetration on Paper Surfaces by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) in Conjunction with Principal Component Analysis (PCA) [J] . The Journal of Adhesion . 2008,第3期

机译：飞行时间二次离子质谱分析（ToF-SIMS）与主成分分析（PCA）结合用于分析纸张表面上的油墨/涂料渗透率
4. Analysis of organic contamination in gases using non-volatile residue (NVR) monitors and time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) [C] . G.S.Strossman, P.M.Lindley, W.D.Bowers Symposium on science and technology of semiconductor surface preparation . 1997

机译：使用非易失性残留物（NVR）监测器和飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）分析气体中的有机污染物
5. Characterization of polymer surfaces using time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) and atomic force microscopy (AFM). [D] . Xu, Keyang. 1997

机译：使用飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）和原子力显微镜（AFM）表征聚合物表面。
6. Detection of Nisin and Fibrinogen Adsorption on Poly(ethylene Oxide) Coated Polyurethane Surfaces by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) [O] . Karl F. Schilke, Joseph McGuire -1

机译：通过飞行时间二次离子质谱法（TOF-SIMS）对聚（环氧乙烷）涂覆聚氨酯表面对聚苯和纤维蛋白原吸附的检测
7. Detection of nisin and fibrinogen adsorption on poly(ethylene oxide) coated polyurethane surfaces by time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) [O] . Karl F. Schilke, Joseph McGuire 2011

机译：通过飞行时间二次离子质谱法（TOF-SIMS）对聚（环氧乙烷）涂覆聚氨酯表面对聚苯和纤维蛋白原吸附的检测

Superhydrophilization of Si Surface by Atmospheric-Pressure Plasma Jet Irradiation: Analysis by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅