机译:介电弹性体的击穿强度和介电常数的拉伸依赖性
机译:紫外线对梳状电容器结构低介电常数SiOC(-H)薄膜漏电流特性和介电击穿的影响
机译:时间依赖性介质击穿和应力引起的泄漏电流对Gbit级DRAM高介电常数(Ba,Sr)TiO / sub 3 /薄膜电容器可靠性的影响
机译:锆锶锶和钛酸锶固溶体系中的高击穿强度和高介电常数电容器
机译:高介电常数材料开发和嵌入式电容器的电气仿真。
机译:通过多环化合物改善聚丙烯薄膜的击穿强度为电力电容器添加
机译:三元聚合物纳米复合材料,具有同时增强的介电常数和高温静电电容器的击穿强度