A new adaptive analog test and diagnosis system

机译：一种新的自适应模拟测试和诊断系统

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E.F. Cota; M. Negreiros; L. Carro; M. Lubaszewski;
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1. A new adaptive analog test and diagnosis system [J] . Cota E.F., Negreiros M. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement . 2000,第2期

机译：新型自适应模拟测试与诊断系统
2. A complete scheme of built-in self-tests (BIST) structure for fault diagnosis in analog circuits and systems [J] . Hatzopoulos A.A., Siskos S. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement . 1993,第3期

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3. Time-domain testing strategies and fault diagnosis for analog systems [J] . Dai H., Souders T.M. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement . 1990,第1期

机译：模拟系统的时域测试策略和故障诊断
4. A new adaptive analog test and diagnosis system [C] . Cota E.F., Negreiros M., Carro L., Instrumentation and Measurement Technology Conference, 1999. IMTC/99. Proceedings of the 16th IEEE . 1999

机译：新型自适应模拟测试与诊断系统
5. Low-cost test, diagnosis, and tuning for adaptive radio frequency systems. [D] . Senguttuvan, Rajarajan. 2008

机译：自适应射频系统的低成本测试，诊断和调整。
6. Participation in Decision Making as a Property of Complex Adaptive Systems: Developing and Testing a Measure [O] . Ruth A. Anderson, Donde Plowman, Kirsten Corazzini, 2013

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7. A new adaptive analog test and diagnosis system [O] . E.F. Cota, M. Negreiros, L. Carro, 2000

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