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【2h】

Test structure for precise statistical characteristics measurement of MOSFETs

机译：用于MOSFET精确统计特性测量的测试结构

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Shimizu Yoshiyuki; Nakamura Mitsuo; 松岡俊匡; 谷口研二; マツオカトシマサ; タニグチケンジ; Matsuoka Toshimasa; Taniguchi Kenji;
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年度 2013
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