机译：二维光电子能谱法分析氧化物半导体/绝缘膜界面的电子结构
机译：二维光电子谱的氧化物半导体/绝缘膜界面的电子结构分析
机译：第42届有机合成研讨会（2010年）-化学技术的变化时代-标题研讨会分别于2010年10月27日（星期三）和28日（星期四）举行，为期两天（德国）大阪市工业研究所它在大型礼堂举行，有43人参加。在本次研讨会中，支持有机合成，氧化反应，光学活性物质生产，药物工艺开发，工艺化学的当前和未来前景，分子电子，液晶有机半导体，有机n型半导体，染料的有机分子催化剂的工业化专注于敏化太阳能电池的开发，自组织空间中的未来化学等方面，在该领域的前线发挥积极作用的三名大学教授，四家公司和产业研究。我们由Tokoro等政府部门的三人讲课。参加者对聆听和
机译：通过全反射硬X射线光电子能谱分析非晶氧化物半导体中价带正上方的缺陷深度分布
机译：电子离子光束对半导体集成电路的失效分析研究
机译：用超薄氧化物对金属/氧化物/半导体（MOS）器件中的氧化物/半导体界面进行光电子能谱研究。
