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High-Contrast Images of Semiconductor Chips Produced by Novel Microscopy Approach

机译：通过新型显微镜方法产生的半导体芯片的高对比度图像

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作者
Shiming Wu;
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年度 2004
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1. High-contrast images of semiconductor sites via one-photon optical beam-induced current imaging and confocal reflectance microscopy [J] . Vincent R. Daria, Jelda J. Miranda, Caesar Saloma Applied optics . 2002,第20期

机译：通过单光子光束感应电流成像和共聚焦反射显微镜对半导体部位进行高对比度成像
2. A Novel Phase-contrast Transmission Electron Microscopy Producing High-contrast Topographic Images of Weak objects [J] . R. Danev, H. Okawara, N. Usuda, Journal of Biological Physics . 2002,第4期

机译：新型相衬透射电子显微镜产生弱物体的高对比度地形图
3. High-contrast X-ray micro-tomography of low attenuation samples using large area hybrid semiconductor pixel detector array of 10 × 5 Timepix chips [J] . J. Karch, F. Krejci, B. Bartl, Journal of instrumentation: an IOP and SISSA journal . 2016,第1期

机译：使用10×5 Timepix芯片的大面积混合半导体像素探测器阵列，对低衰减样品进行高对比度X射线断层扫描
4. CHIPS: The Carina High-contrast Imaging Project of massive Stars [C] . Alan Rainot, Hugues Sana, Carlos A. Gomez-Gonzalez, International Astronomical Union., Symposium . 2017

机译：筹码：巨大的狂欢高对比度成像项目
5. Bright-field and fluorescence chip-scale microscopy for biological imaging. [D] . Lee, Seung Ah. 2014

机译：用于生物成像的明场和荧光芯片级显微镜。
6. A Novel Phase-contrast Transmission Electron Microscopy Producing High-contrast Topographic Images of Weak objects [O] . R. Danev, H. Okawara, N. Usuda, 2002

机译：新型相衬透射电子显微镜产生弱物体的高对比度地形图
7. Carina High-contrast Imaging Project for massive Stars (CHIPS) [O] . A. Rainot, M. Reggiani, H. Sana, 2020

机译：Carina高对比度成像项目，用于大型恒星（芯片）

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