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【2h】

Error Correction Code and SEU Test Analysis of Mass Memory for STSAT-3

机译：STSAT-3质量存储器纠错码和SEU测试分析

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作者
In-Ho Seo; Kwang-Sun Ryu; Dae-Soo Oh; Byung-Jun Kim;
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年度 2010
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2. SEU Tolerant Memory Using Error Correction Code [J] . She X., Li N., Jensen D. W. Nuclear Science, IEEE Transactions on . 2012,第1期

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3. Single-Error-Correction Code for Simultaneous Testing of Data Bit and Check Bit Arrays for Word-Oriented Memories [J] . Cha S., Yoon H. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on . 2013,第1期

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4. Neutron Induced Single Event Upset (SEU) Testing of Commercial Memory Devices with Embedded Error Correction Codes (ECC) [C] . John M. Bird, Michael K. Peters, Travis Z. Fullem, IEEE Radiation Effects Data Workshop . 2017

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5. Analysis of the error correction performance of majority-logic-like vector symbol codes and applications in diversity combining systems. [D] . Chung, Jong-Moon. 1999

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